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    • 光學(xué)薄膜測厚儀

      光學(xué)薄膜測厚儀 薄膜表面或界面的反射光會(huì )與從基底的反射光相干涉,干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數等有關(guān),因此可通過(guò)計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無(wú)損、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù),我們的薄膜測量系統采用光干涉原

      更新時(shí)間:2020-11-01

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